高壓開關動特性測試儀的結構原理

高壓開關動特性測試儀檢定裝置是用于校驗高壓開關測試儀時間測量功能的專業儀器，本文中將為大家介紹高壓開關動特性測試儀校驗裝置的結構原理。

   高壓開關動特性測試儀校驗裝置的總體結構主要包括微處理器、交/直流輸入轉換、模/數轉換、識別電路、精密時基電路以及人機友好界面顯示等部分，在硬件平臺的基礎上，配備的軟件編輯，囊括了計算機技術、數字信號處理技術、檢測技術等，能夠的完成對高壓開關動特性測試儀電量輸出參量、開關動作時間參量等功能的校驗工作。

     由校驗裝置總體結構圖可知，該校驗裝置中主要通過兩個處理通道來完成校驗任務。一個是將電壓信號輸出送到衰減電路中，然后再送入A/D轉換電路中，通過光耦再送到MCU中進行運算處理，后通過LCD顯示結果，從而完成對高壓開關動特性測試儀電量參量的校驗。另外一個開關動作信號通過輸入電路調整為本電路相匹配的信號，然后輸送到識別電路，轉換成MCU可以識別出的數字信號，經過光耦后由MCU進行運算處理，對處理后的結果執行相應動作，然后對外輸出控制信號，以完成對開關動作時間參量的校驗。人機友好界面主要包括液晶顯示器和操作按鍵。